苹果最新iPhone 6以及iPhone 6 Plus在各地都颇受欢迎，然而实际上从开卖至今，不只热卖消息不断，关于iOS 8的软体BUG以及机身品质瑕疵情况也不少，包含弯曲门、头髮门等新闻，相信读者们依旧记忆犹新。根据韩媒报导，iPhone 6 Plus可能又被发现最新品质缺陷，苹果或许将因此宣布大规模召回。
统整近期网路上传出的iPhone 6负面新闻，Business Insider网站报导有部分iPhone 6 Plus用户的手机会在查看通知中心、或切换APPs时无预警当机且重启。Apple Insider网站则是有网友回报表示自己的iPhone 6 Plus已经送修四次。由于这些发生问题的机种，不约而同的都是iPhone 6 Plus 128GB机种，因此有业界人士指出这很可能是iPhone内部NAND Flash控制IC品质瑕疵所导致。
Business Korea网站报导，iPhone 6 Plus当机的问题，或许是当中所使用的TLC（三阶储存单元）NAND记忆体控制IC的问题。苹果在部分iPad以及部分iPhone 6 Plus当中所使用的TLC NAND Flash，储存容量相较于SLC（单阶储存单元）、MLC（多阶储存单元）更多，但是读取/写入的速度却较慢。苹果之所以在部分iPad机种当中选用TLC的原因就是为了节省成本，在iPhone产品较常使用比较昂贵的MLC NAND Flash。
在苹果iPhone 6毛利率高达69%（根据研究公司IHS调查报告）的结果之下，若是苹果仅因为价格相对便宜而选用TLC NAND Flash，而导致部分iPhone 6 Plus 128GB频频当机的话，相信是花费高额代价购买此机种的用户心理上所无法接受的解释。
然而针对近期所传出iPhone 6 Plus 128GB安装超过700个APPs之后容易当机，以及韩媒推测控制IC出现问题的报导，苹果目前皆未作出正式回应。
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